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sem為什么有些地方亮

發(fā)布時間：2023-04-07 17:51:29 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 101

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本文目錄:

1、簡要說明sem的二次電子像的成像原理,二次電子像主要反映試樣的什么特征
2、
3、
4、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？

sem為什么有些地方亮

一、簡要說明sem的二次電子像的成像原理,二次電子像主要反映試樣的什么特征

你說的是SEM電鏡吧，這主要是它的成像原理導(dǎo)致的其可以反映樣品表面或者斷面的形貌信息。SEM的工作原理為：從電子槍陰極發(fā)出的直徑20(m～30(m的電子束，受到陰陽極之間加速電壓的作用，射向鏡筒，經(jīng)過聚光鏡及物鏡的會聚作用，縮小成直徑約幾毫微米的電子探針。在物鏡上部的掃描線圈的作用下，電子探針在樣品表面作光柵狀掃描并且激發(fā)出多種電子信號。這些電子信號被相應(yīng)的檢測器檢測，經(jīng)過放大、轉(zhuǎn)換，變成電壓信號，最后被送到顯像管的柵極上并且調(diào)制顯像管的亮度。顯像管中的電子束在熒光屏上也作光柵狀掃描，并且這種掃描運動與樣品表面的電子束的掃描運動嚴(yán)格同步，這樣即獲得襯度與所接收信號強度相對應(yīng)的掃描電子像，這種圖象反映了樣品表面的形貌特征。

二、

三、

四、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？

SEM通過電子來使樣本放大50萬倍，相當(dāng)于將1毫米放大到500米。同時，SEM也可以分析樣品的組成元素。SEM產(chǎn)生電子束撞擊樣品原子的電子層，產(chǎn)生X射線，釋放不同程度的能力，從而判斷原子的種類。這項技術(shù)也被稱為X射線微探技術(shù)，對于分析槍擊痕跡非常有用。

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