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sem對(duì)于測(cè)試樣品的要求（sem對(duì)于測(cè)試樣品的要求有哪些）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-08 11:51:46 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 98

大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于sem對(duì)于測(cè)試樣品的要求的問題，以下是小編對(duì)此問題的歸納整理，讓我們一起來(lái)看看吧。

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本文目錄:

1、sem掃描電鏡測(cè)量需要多長(zhǎng)時(shí)間
2、掃描電鏡sem的主要原理是什么？測(cè)試過(guò)程需要重點(diǎn)注意哪些操作
3、在做SEM前要對(duì)式樣表面做那些處理
4、SEM 對(duì)于不同的樣品如何選擇最優(yōu)電壓電流？

sem對(duì)于測(cè)試樣品的要求（sem對(duì)于測(cè)試樣品的要求有哪些）

一、sem掃描電鏡測(cè)量需要多長(zhǎng)時(shí)間

測(cè)量時(shí)間因樣品類型和測(cè)試要求而不同。

電鏡測(cè)量過(guò)程包括：制樣→放樣→確認(rèn)位置→拍照、測(cè)試等。

1、對(duì)于簡(jiǎn)單樣品，可能不需要特別制樣，直接取樣放樣（要抽真空）就可以，該過(guò)程可能需要幾分鐘到十幾分鐘；對(duì)于負(fù)責(zé)樣品，可能需要斷開、拋光腐蝕或者其他處理，時(shí)間就不能確定了，有的可能要半天，抽真空放樣可能半個(gè)小時(shí)；

2、如果單純拍幾張照片，沒有特別要求，幾分鐘就可以確認(rèn)位置和拍完照片，如果在樣品上找某些特定的特征拍照時(shí)間就可能長(zhǎng)很多（這也與拍照人的操作熟練程度有關(guān)），如果還要測(cè)能譜或者其他的內(nèi)容，時(shí)間可能會(huì)更延長(zhǎng)。

如果樓主不能判斷自己樣品符合以上哪些內(nèi)容，不能確認(rèn)時(shí)間，可以詳細(xì)說(shuō)下你的樣品和測(cè)試內(nèi)容，才能準(zhǔn)確知道測(cè)試時(shí)間

二、掃描電鏡sem的主要原理是什么？測(cè)試過(guò)程需要重點(diǎn)注意哪些操作

電鏡的原理是：

電子槍

發(fā)出

電子束

打到樣品表面，激發(fā)出

二次電子

、

背散射電子

、X-ray等特征信號(hào)，經(jīng)收集轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)，得到相應(yīng)的形貌或成分信息。

測(cè)試注意事項(xiàng)：