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sem掃描電鏡使用注意事項

發(fā)布時間：2023-04-19 11:20:49 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 74

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本文目錄:

1、SEM和TEM放在一起，我應(yīng)該注意些什么
2、sem電鏡電壓鍵怎么放到右下角
3、求助掃描電鏡SEM送樣前處理
4、透射電鏡和掃描電鏡的特點及應(yīng)用（越全越好）

sem掃描電鏡使用注意事項

一、SEM和TEM放在一起，我應(yīng)該注意些什么

SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.

區(qū)別：

SEM的樣品中被激發(fā)出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表征樣品的質(zhì)厚襯度，也可以表征樣品的內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu)。TEM的分辨率比SEM要高一些。

SEM樣品要求不算嚴苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然后去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區(qū)要求）。

TEM可以標定晶格常數(shù)，從而確定物相結(jié)構(gòu)；SEM主要可以標定某一處的元素含量，但無法準確測定結(jié)構(gòu)。

二、sem電鏡電壓鍵怎么放到右下角

1、首先SEM掃描電鏡是利用細聚焦電子束在樣品表面掃描時激發(fā)出來的各種物理信號來調(diào)制成像的機器，想要把機器中的電壓鍵放到右下角就需要把鏈接上機器的電腦打開。

2、其次點擊控制面板上的加速電壓顯示區(qū)域，出現(xiàn)加速電壓HV設(shè)定畫面。

3、最后設(shè)定電壓鍵，把電壓鍵移動到右下角就可以了。

三、求助掃描電鏡SEM送樣前處理

導(dǎo)電膠粘到SEM試樣銅臺上，硅片粘到導(dǎo)電膠上。樣品用乙醇分散一下，滴到硅片上，待乙醇揮發(fā)后就可以拿去測了。關(guān)鍵是分散時的濃度，不要太濃，容易很多微球疊在一起，也不要太稀，不利于觀測

四、透射電鏡和掃描電鏡的特點及應(yīng)用（越全越好）

1、透射電子顯微鏡電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。

透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應(yīng)用較多。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質(zhì)量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。

常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液體樣品，通常是掛預(yù)處理過的銅網(wǎng)上進行觀察。

2、掃描電鏡的特點：有較高的放大倍數(shù)，2-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu)；試樣制備簡單。

生物：種子、花粉、細菌；

醫(yī)學：血球、病毒；

動物：大腸、絨毛、細胞、纖維；

材料：陶瓷、高分子、粉末、金屬、金屬夾雜物、環(huán)氧樹脂；

化學、物理、地質(zhì)、冶金、礦物、污泥（桿菌）、機械、電機及導(dǎo)電性樣品，如半導(dǎo)體(IC、線寬量測、斷面、結(jié)構(gòu)觀察）電子材料等。

sem掃描電鏡使用注意事項

擴展資料

透射電鏡的總體工作原理是：由電子槍發(fā)射出來的電子束，在真空通道中沿著鏡體光軸穿越聚光鏡，通過聚光鏡將之會聚成一束尖細、明亮而又均勻的光斑，照射在樣品室內(nèi)的樣品上；透過樣品后的電子束攜帶有樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息，樣品內(nèi)致密處透過的電子量少，稀疏處透過的電子量多；

經(jīng)過物鏡的會聚調(diào)焦和初級放大后，電子束進入下級的中間透鏡和第1、第2投影鏡進行綜合放大成像，最終被放大了的電子影像投射在觀察室內(nèi)的熒光屏板上；熒光屏將電子影像轉(zhuǎn)化為可見光影像以供使用者觀察。

掃描電子顯微鏡的制造依據(jù)是電子與物質(zhì)的相互作用。掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過對這些信息的接收、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

參考資料來源：百度百科-掃描電子顯微鏡

參考資料來源：百度百科-透射電子顯微鏡

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