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量子點(diǎn)需要做sem測試嗎（量子點(diǎn)檢測）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-22 05:21:00 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 101

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本文目錄:

1、SEM、TEM、TG、XRD、AFM、紅外光譜，這幾個(gè)分別是測什么的？
2、名詞解釋：1、SPS燒結(jié) 2、SEM測試
3、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先后順序？
4、sem需要做哪些？

量子點(diǎn)需要做sem測試嗎（量子點(diǎn)檢測）

一、SEM、TEM、TG、XRD、AFM、紅外光譜，這幾個(gè)分別是測什么的？

測什么百度一下吧，應(yīng)該都有詳細(xì)的測試原理及項(xiàng)目。

區(qū)別應(yīng)該是 SEM和TEM和AFM，越來越高級，放大倍數(shù)越來越高。XRD和紅外光譜這兩個(gè)是沒什么關(guān)系的，xrd是測試晶體結(jié)構(gòu)的，可以測試晶體結(jié)構(gòu)的，對于可以看出你的材料是什么。紅外是靠紅外吸收峰的位置與強(qiáng)度反映了分子結(jié)構(gòu)上的特點(diǎn)，可以用來鑒別未知液態(tài)水的紅外光譜物的結(jié)構(gòu)組成或確定其化學(xué)基團(tuán)；而吸收譜帶的吸收強(qiáng)度與化學(xué)基團(tuán)的含量有關(guān)，可用于進(jìn)行定量分析和純度鑒定。l紅外主要用于有機(jī)化合物的結(jié)構(gòu)鑒定在有機(jī)化學(xué)、生物化學(xué)、藥物學(xué)、環(huán)境科學(xué)等許多領(lǐng)域。

二、名詞解釋：1、SPS燒結(jié) 2、SEM測試

SPS燒結(jié):放電等離子燒結(jié)，assisted particle sintering

SEM測試：scanning electron microscopy 掃描電子顯微鏡測試

第一個(gè)英語不肯定，第二個(gè)絕對肯定

三、請教薄膜樣品做XRD、SEM和原子力顯微鏡測試的先后順序？

薄膜樣品做XRD、SEM和AFM測試沒有固定的先后順序。在這三個(gè)測試中原子力顯微鏡更具有優(yōu)勢。想了解更詳細(xì)的信息，推薦咨詢Park原子力顯微鏡。Park原子力顯微鏡的Park NX-Hivac。在高真空條件下執(zhí)行掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡測量可減少所需的針尖-樣本相互作用力，從而大幅度降低對樣本和針尖的損傷。如此可延長各針尖的使用壽命，使掃描更加低成本和便捷，并通過提高空間分辨率和信噪比得到更為精確的結(jié)果。因此，利用NX-Hivac進(jìn)行的高真空掃描擴(kuò)散電阻顯微術(shù)測量可謂是故障分析工程師增加其吞吐量、減少成本和提高準(zhǔn)確性的明智選擇。

XRD、 SEM、AFD三者的區(qū)別：

1、 XRD（X-ray diffraction）是用來獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)。

2、 SEM（掃描電子顯微鏡）是一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。

3、 AFM （原子力顯微鏡）是一種表面觀測儀器，與掃描隧道顯微鏡相比，能觀測非導(dǎo)電樣品。

XRD通常薄膜厚度不夠的話，需要剝離研磨制成粉末樣品。SEM和AFM根據(jù)樣品的特性選擇一個(gè)測試就可以。測試時(shí)通常是選擇同批次，同條件的幾個(gè)樣品分別去測形貌和組分。按照預(yù)約測試時(shí)間來安排測試順序。

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