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    sem測(cè)量范圍(sem測(cè)量原理)

    發(fā)布時(shí)間:2023-04-14 07:00:33     稿源: 創(chuàng)意嶺    閱讀: 144        

    大家好!今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于sem測(cè)量范圍的問題,以下是小編對(duì)此問題的歸納整理,讓我們一起來(lái)看看吧。

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    本文目錄:

    sem測(cè)量范圍(sem測(cè)量原理)

    一、sem測(cè)試圖上的5um和10um是什么意思

    5um和10um意思如下:

    5um和10um的線段就是個(gè)標(biāo)尺的意思,那個(gè)線段的長(zhǎng)度就是5um和10um,實(shí)物的一對(duì)照線段長(zhǎng)度就知道尺寸了。

    二、SEM和SD的區(qū)別是什么?

    一、含義不同

    mean表示都是平均數(shù)。

    SEM是standard error of mean是平均數(shù)的抽樣誤差,反應(yīng)平均數(shù)的抽樣準(zhǔn)確性。

    SD全稱standard deviation標(biāo)準(zhǔn)差,又常稱均方差,是離均差平方的算術(shù)平均數(shù)的平方根,用σ表示。

    二、用法不同

    SEM計(jì)估計(jì)值的準(zhǔn)確性無(wú)法度量,但可以用統(tǒng)計(jì)方法來(lái)測(cè)量。

    測(cè)試的誤差來(lái)源包括系統(tǒng)誤差和采樣誤差,這些誤差很容易克服,采樣誤差是由許多無(wú)法控制的內(nèi)部和外部因素引起的,這些因素都是偶然的,即使在測(cè)試中非常小心也很難消除,但可以通過增加重復(fù)次數(shù)來(lái)減少。

    小樣本(n≤30)取平均值±標(biāo)準(zhǔn)差,大樣本(n>30)取平均值±標(biāo)準(zhǔn)差。

    sem測(cè)量范圍(sem測(cè)量原理)

    三、類型不同

    標(biāo)準(zhǔn)差是方差的算術(shù)平方根。標(biāo)準(zhǔn)差可以反映數(shù)據(jù)集的離散程度。如果平均值相同,則標(biāo)準(zhǔn)差可能不相同。

    標(biāo)準(zhǔn)誤差是用樣品的標(biāo)準(zhǔn)偏差除以樣品容量的平方根來(lái)計(jì)算的,標(biāo)準(zhǔn)誤差受樣本量影響較大,樣本量越大,標(biāo)準(zhǔn)誤差越小,抽樣誤差越小,說(shuō)明樣本能夠更好地代表種群。

    三、Mplus中關(guān)于SEM的介紹

        結(jié)構(gòu)方程模型(SEM)包括連續(xù)潛變量之間的回歸模型(Bollen, 1989; Browne & Arminger, 1995;Joreskog & Sorbom, 1979)。也就是說(shuō),這些潛變量是連續(xù)的。這里需要注意的是:1. 潛變量(latent variables)是與觀察變量(Observed variables)相對(duì)的,可通過數(shù)據(jù)分析觀察;2. 觀察變量可以是連續(xù)的(continuous)、刪失的(censored)、二進(jìn)制的(binary)、有序的(ordinal)、無(wú)序的(nominal)、計(jì)數(shù)的(counts),或者是這些類別的組合形式。

        SEM有兩個(gè)部分:一個(gè)測(cè)量模型(measurement model)和一個(gè)結(jié)構(gòu)模型(structural model)。

         測(cè)量模型 相當(dāng)于一個(gè)多元回歸模型(multivariate regression model),用于描述一組可觀察的因變量和一組連續(xù)潛變量之間的關(guān)系。在此,這一組可觀察的因變量被稱為因子指標(biāo)(factor indicators),這一組連續(xù)潛變量被稱為因子(factors)。

        如何描述它們之間的關(guān)系?可以通過以下方式:

    1. 若因子指標(biāo)是連續(xù)的,用線性回歸方程(linear regression equations);

    2. 若因子指標(biāo)是刪失的,用刪失回歸或膨脹刪失回歸方程(censored normal or censored-inflated normal regression equations);

    3. 若因子指標(biāo)是有序的類別變量,用profit或logistic回歸方程(probit or logistic regression equations);

    4. 若因子指標(biāo)是無(wú)序的類別變量,用多元logistic回歸方程(multinomial logistic regression equations);

    5. 若因子指標(biāo)是計(jì)數(shù)的,用Poisson或零膨脹Poisson回歸方程(Poisson or zero-inflated Poisson regression equations)。

         結(jié)構(gòu)模型 則在一個(gè)多元回歸方程中描述了三種變量關(guān)系:

    1. 因子之間的關(guān)系;

    2. 觀察變量之間的關(guān)系;

    3. 因子和不作為因子指標(biāo)的觀察變量之間的關(guān)系。

        同樣,這些變量有不同的種類,所以要根據(jù)它們的類別來(lái)選擇合適的方程進(jìn)行分析:

    1. 若因子為因變量,及可觀察的因變量是連續(xù)的,用線性回歸方程(linear regression equations);

    2. 若可觀察的因變量是刪失的,用刪失回歸或膨脹刪失回歸方程(censored normal or censored-inflated normal regression equations);

    3. 若可觀察的因變量是二進(jìn)制的或者是有序的類別變量,用profit或logistic回歸方程(probit or logistic regression equations);

    4. 若可觀察的因變量是無(wú)序的類別變量,用多元logistic回歸方程(multinomial logistic regression equations);

    5. 若可觀察的因變量是計(jì)數(shù)的,用Poisson或零膨脹Poisson回歸方程(Poisson or zero-inflated Poisson regression equations)。

        在回歸中,有序的類別變量可通過建立比例優(yōu)勢(shì)(proportional odds)模型進(jìn)行說(shuō)明;最大似然估計(jì)和加權(quán)最小二乘估計(jì)(maximum likelihood and weighted least squares estimators)都是可用的。

        以下特殊功能也可以通過SEM實(shí)現(xiàn):

    1. 單個(gè)或多組分析(Single or multiple group analysis);

    2. 缺失值(Missing data);

    3. 復(fù)雜的調(diào)查數(shù)據(jù)(Complex survey data);

    4. 使用最大似然估計(jì)分析潛變量的交互和非線性因子(Latent variable interactions and non-linear factor analysis using maximum likelihood);

    5. 隨機(jī)斜率(Random slopes);

    6. 限制線性和非線性參數(shù)(Linear and non-linear parameter constraints);

    7. 包括特定路徑的間接作用(Indirect effects including specific paths);

    8. 對(duì)所有輸出結(jié)果的類型進(jìn)行最大似然估計(jì)(Maximum likelihood estimation for all outcome types);

    9. bootstrap標(biāo)準(zhǔn)誤差和置信區(qū)間(Bootstrap standard errors and confidence intervals);

    10. 相等參數(shù)的Wald卡方檢驗(yàn)(Wald chi-square test of parameter equalities)。

        以上功能也適用于CFA和MIMIC。

    四、SEM與TEM的區(qū)別

    一、性質(zhì)不同

    1、SEM:根據(jù)用戶使用搜索引擎的方式利用用戶檢索信息的機(jī)會(huì)盡可能將營(yíng)銷信息傳遞給目標(biāo)用戶。

    2、TEM:把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。

    二、原理不同

    1、TEM

    (1)吸收像:當(dāng)電子被發(fā)射到高質(zhì)量和高密度的樣品時(shí),主要的相位形成是散射。當(dāng)樣品的質(zhì)量和厚度較大時(shí),電子的散射角較大,通過的電子較小,圖像的亮度較暗。早期透射電子顯微鏡(TEM)就是基于這一原理。

    (2)衍射像:電子束被樣品衍射后,樣品不同位置的衍射波振幅分布對(duì)應(yīng)于樣品中晶體各部分的不同衍射能力。當(dāng)出現(xiàn)晶體缺陷時(shí),缺陷部分的衍射能力與整個(gè)區(qū)域的衍射能力不同,使得衍射波的振幅分布不均勻,反映了晶體缺陷的分布。

    2、SEM

    (1)用戶搜索;

    (2)返回結(jié)果;

    (3)查看結(jié)果;

    (4)點(diǎn)擊內(nèi)容;

    (5)瀏覽網(wǎng)站;

    (6)咨詢搜索。

    sem測(cè)量范圍(sem測(cè)量原理)

    擴(kuò)展資料:

    TEM特點(diǎn):

    1、以電子束為光源,電磁場(chǎng)為透鏡。電子束的波長(zhǎng)與加速電壓(通常為50-120千伏)成反比。

    2、它由五部分組成:電子照明系統(tǒng)、電磁透鏡成像系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、記錄系統(tǒng)和電源系統(tǒng)。

    3、分辨率為0.2nm,放大倍數(shù)可達(dá)一百萬(wàn)倍。

    4、透射電鏡分析技術(shù)是一種高分辨率(1nm)高倍率的電子光學(xué)分析技術(shù),它以波長(zhǎng)很短的電子束為光源,聚焦于電磁透鏡成像。

    5、用透射電鏡分析樣品,通常有兩個(gè)目的:一是獲得高倍率的電子圖像,二是獲得電子衍射圖樣。

    6、透射電鏡常用于研究納米材料的結(jié)晶,觀察納米顆粒的形貌和分散度,測(cè)量和評(píng)價(jià)納米顆粒的粒徑。這是表征納米復(fù)合材料微觀結(jié)構(gòu)的常用技術(shù)之一。

    參考資料來(lái)源:百度百科-TEM

    參考資料來(lái)源:百度百科-搜索引擎營(yíng)銷

    以上就是關(guān)于sem測(cè)量范圍相關(guān)問題的回答。希望能幫到你,如有更多相關(guān)問題,您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢,客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識(shí)和內(nèi)容。


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